供應上海計算機高加速壽命測試

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高加速壽命測試

[項目介紹] 

1.HALT（高加速壽命測試）：Highly  accelerated  life  test是一種發(fā)現設計缺陷的工序，它通過設置逐級遞增的加速環(huán)境應力，來加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點，而后對暴露的缺陷和故障從設計、工藝和用料等諸方面進行分析和改進，從而達到提升可靠性的目的，最大的特點是設置高于樣品設計運行限的環(huán)境應力，從而從暴露故障的時間大大短于正常可靠性應力條件下的所需時間。

2.HASS（高加速應力篩選）：Highly  accelerated  stress  screen是產品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產線上做高加速應力篩選。要求100%的產品參加篩選。其目的是為了使得生產的產品不存在任何隱患的缺陷或者至少在產品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷，HASS就是通過加速應力以期在短時間內找到有缺陷的產品，縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產品。

3.HASA（高加速應力抽檢篩選）：Highly  accelerated  stress  audit是一種在產品批量生產階段使用抽樣理論的篩選試驗方法。它可以防止有缺陷的產品交付到客戶的手中。

試驗項目：a.低溫步進應力試驗；b.高溫步進應力試驗；c.快速熱循環(huán)試驗；

                  d.振動步進應力試驗；e.綜合應力試驗；f.工作應力測試。

[業(yè)務范圍]

1.  計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設備等精密儀器等

2.電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。

3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設備；

4.其他：包裝箱、運輸設備等。