國(guó)家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心，是中國(guó)權(quán)威的第三方金屬檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室通過(guò)ISO 17025國(guó)家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(CNAS)，中國(guó)計(jì)量認(rèn)證(CMA)，國(guó)際航空材料認(rèn)證（NADCAP），為客戶(hù)提供科學(xué)的產(chǎn)品檢測(cè)、評(píng)價(jià)方案，滿(mǎn)足進(jìn)出口及工程檢測(cè)等各種需求。 

工業(yè)硅化學(xué)分析方法 1，10-二氮雜菲分光光度法測(cè)定鐵量 GB/T 14849.1-2007

工業(yè)硅化學(xué)分析方法 鉻天青-S分光光度法測(cè)定鋁量 GB/T14849.2-2007

工業(yè)硅化學(xué)分析方法 鈣量的測(cè)定 GB/T 14849.3-2007

工業(yè)硅化學(xué)分析方法　第4部分：電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測(cè)定元素含量 GB/T 14849.4-2007

工業(yè)硅化學(xué)分析方法 原子吸收法測(cè)定工業(yè)硅中的鐵、錳、鎳、鉛、鈣 QB-H1-14.2-1994

工業(yè)硅化學(xué)分析方法 鉬藍(lán)分光光度法測(cè)定工業(yè)硅中的磷 QB-H1-14.3-1994

硅及氧化硅中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析QB-GP-10-1999

硅中雜質(zhì)元素測(cè)定電感耦合等離子體質(zhì)譜法 SG-GC-07.1-2009

硅中雜質(zhì)元素測(cè)定電感耦合等離子體發(fā)射光譜法 SG-GC-07.2-2009

關(guān)鍵詞：

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