連云港無損探傷檢測(cè)
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常規(guī)的無損探傷檢測(cè)項(xiàng)目
磁粉探傷
滲透探傷(著色探傷)
超聲波探傷
X射線探傷
磁粉探傷利用工件缺陷處的漏磁場(chǎng)與磁粉的相互作用,它利用了鋼鐵制品表面和近表面缺陷(如裂紋,夾渣,發(fā)紋等)磁導(dǎo)率和鋼鐵磁導(dǎo)率的差異,磁化后這些材料不連續(xù)處的磁場(chǎng)將發(fā)生崎變,形成部分磁通泄漏處工件表面產(chǎn)生了漏磁場(chǎng),從而吸引磁粉形成缺陷處的磁粉堆積——磁痕,在適當(dāng)?shù)墓庹諚l件下,顯現(xiàn)出缺陷位置和形狀,對(duì)這些磁粉的堆積加以觀察和解釋,就實(shí)現(xiàn)了磁粉探傷。
滲透探傷包括熒光法和著色法。熒光法是將含有熒光物質(zhì)的滲透液涂敷在被探傷件表面,通過毛細(xì)作用滲入表面缺陷中,然后清洗去表面的滲透液,將缺陷中的滲透液保留下來,
進(jìn)行顯象。典型的顯象方法是將均勻的白色粉末撒在被探傷件表面,將滲透液從缺陷處吸出并擴(kuò)展到表面。這時(shí),在暗處用紫外線燈照射表面,缺陷處發(fā)出明亮的熒光。著色法與熒光法相似,只是滲透液內(nèi)不含熒光物質(zhì),而含著色染料,使?jié)B透液鮮明可見,可在白光或日光下檢查。一般情況下,熒光法的靈敏度高于著色法。這兩種方法都包括滲透、清洗、顯象和檢查四個(gè)基本步驟。 
 
 
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常規(guī)的無損探傷檢測(cè)項(xiàng)目
磁粉探傷
滲透探傷(著色探傷)
超聲波探傷
X射線探傷
超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)有多種波型,檢驗(yàn)中最常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測(cè)金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡單的制件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷;用橫波可探測(cè)管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷;用表面波可探測(cè)形狀簡單的鑄件上的表現(xiàn)缺陷;用板波可探測(cè)薄板中的缺陷。
射線探傷的基本原理如下:
當(dāng)強(qiáng)度均勻的射線束透照射物體時(shí),如果物體局部區(qū)域存在缺陷或結(jié)構(gòu)存在差異,它將改變物體對(duì)射線的衰減,使得不同部位透射射線強(qiáng)度不同,這樣,采用一定的檢測(cè)器(例如,射線照相中采用膠片)檢測(cè)透射射線強(qiáng)度,就可以判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布等。
 
 
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