光電測試系統(tǒng),光電探測器測試系疒統(tǒng),光子芯片測試,硅光子測試系統(tǒng)爿,光電調(diào)制器,光電探測試器,光功率計,光波元器件分析儀,光接收機,光譜分析,光測試座,光電芯片測試價格
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,光有源器件,光無源器件,光傳輸系統(tǒng)
 
 
 1)光電探測器參數(shù)自動測試系統(tǒng)為易捷測試專門為PD類光電探測器芯片開發(fā)的一套完整集IV、CV、光響應(yīng)度等測試應(yīng)用一站式在片測試系統(tǒng)。主要應(yīng)用于解決PD類芯片的研發(fā)和自動化篩選測試。系統(tǒng)集成的源自于易捷測試在光電模塊、光電器件到封裝以及探針臺領(lǐng)域多年的測試經(jīng)驗。
 2)伴隨400G、100G通信的到來,通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件從特征性能都需要極大提高。從芯片到封裝好的器件特征必須通過相應(yīng)的參數(shù)來衡量相應(yīng)的O/E和E/O參數(shù)。如3dB帶寬、S參數(shù)、光波長響應(yīng)度,深圳市易捷測試技術(shù)有限公司,易捷測試技術(shù),接收靈敏度等。該系統(tǒng)就是集成矢網(wǎng)、光調(diào)制器、光校準(zhǔn)件、探針臺,可對O/E,E/O芯片、封裝好的器件特征參數(shù)進行測試
 
 1)B1500A
 2)B2901A
 3)E4980A/AL
 4)N7744A
 5)N4373D
 6)N7786B
 7)ES操作系統(tǒng)
 8)TS2000
 17)PHA-X
 18)G-O4766A
 19)G-OR
 20)G-CCAF
 21)TS3000-Siph
 
 1)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
 2)電源/測量單元
 3)LCR表
 4)光功率計
 5)光波元器件分析儀
 6)偏振綜合儀
 7)光電探測器參數(shù)自動測試系統(tǒng)
 8)自動探針臺
 9)光學(xué)測試和測量平臺,經(jīng)過優(yōu)化,可以經(jīng)濟高效地開發(fā)和制造光傳輸網(wǎng)絡(luò)元件。
 10)為光學(xué)器件和子系統(tǒng)開發(fā)和制造中的光學(xué)測試切換和信號調(diào)理提供靈活,主性價比測試平臺
 11)光學(xué)開關(guān)解決方案
 12(光信號調(diào)節(jié)器)
 13(光連接器和無源件測試)
 14(光功率和光譜測量)
 15(光信號交換和路由)
 16(寬帶光源和放大器)
 17(網(wǎng)絡(luò)分析儀)
 18(光調(diào)制器)
 19(光接收機)
 20(連接的電纜和光纖)
 21(全自動硅光子器件特性專用探針臺系統(tǒng))
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