SCT電池片測(cè)試儀
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、關(guān)鍵部件均采用進(jìn)口器件，有效的保證了設(shè)備的品質(zhì)。
2、采用高精度紅外探頭與高速同步采集卡，保證了設(shè)備測(cè)試精度。
3、氣動(dòng)控制設(shè)備操作，加速測(cè)試流程。
3、自動(dòng)化控制，實(shí)時(shí)偵測(cè)設(shè)備運(yùn)行情況，保證設(shè)備的可靠運(yùn)行

電池片測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：  

型號(hào)規(guī)格：SCT-A/SCT-B 

輻照不均勻度：≤±2%（SCT-A）   ≤±3%（SCT-B） 

輻照不穩(wěn)定度：≤±2%（SCT-A）   ≤±3%（SCT-B） 

測(cè)試結(jié)果一致性：≤±0.5%（SCT-A）   ≤±1%（SCT-B） 

電性能測(cè)試誤差：≤±1%（SCT-A）   ≤±2%（SCT-B） 

光譜范圍：符合IEC60904-9要求（A級(jí)） 

輻照強(qiáng)度：100mW/ cm2（調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2） 

單次閃光時(shí)間：10ms 

有效測(cè)試面積：200mm×200mm 

有效測(cè)試范圍：0．1W~5W 

測(cè)量電壓：1V（1mV） 

測(cè)量電流：10A（分辨率1mA） 

測(cè)試參數(shù)：Isc、Voc、Pmax、Vm、Im、FF、EFF、Temp 

數(shù)據(jù)采集：含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn) 


電池片測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域：
主要用于單晶硅和多晶硅太陽(yáng)能電池的電性能參數(shù)的分選和結(jié)果記錄。

客戶價(jià)值：
1、設(shè)備故障率小，運(yùn)行穩(wěn)定。
2、測(cè)試精度高，能有效反映被測(cè)電池片實(shí)際工作情況。
3、測(cè)試時(shí)間短。3秒/片，有效提升了測(cè)試效率。

口號(hào)：進(jìn)口關(guān)鍵部件 設(shè)備性能穩(wěn)定 測(cè)試結(jié)果精確。

如有需要請(qǐng)聯(lián)系15671696583或Q1563376021