用于再生PSMK表面粗糙度的測(cè)試
1.范圍:300um
2.測(cè)試頭:diamod
3.measure force:4mN
4.induction mode:tiny induce.
5.parameter:Ra,Ry,Rz,RT,Rp,Rq,Rv,Sm,SPc.R3z,mr.Rpk,Rvk,RK,Mr1.Mr2,Lo,R,AR,Rx,A1,A2
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