安捷倫HP4291B阻抗分析儀

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東莞市金凱電子儀器有限公司
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HP4291B主要特性與技術(shù)指標
4個元件測試夾具（被測件尺寸：0.5mm至20mm）
HP4291B獨立選擇2個通道的參數(shù)
直接讀取介電常數(shù)、導磁率（選件）
2個材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度）
多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間）
掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）
HP4291B描述
Agilent4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完整解決方案。與反射測量技術(shù)不同，Agilent4291B使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。
基本阻抗精度是+/-0.8%。高Q精度有利于進行低損耗元器件分析。內(nèi)置合成器掃頻范圍從1MHz到1.8GHz，具有1MHz的分辨率。1.8米長的精密電纜可將分析儀連接到測試站，以便您將測試點延伸到分析儀之外，而不會影響測量精度。先進的矩陣和錯誤補償功能消除了夾具的測量錯誤，確保DUT/MUT的高精度和可重復性。