鍍層膜厚測試儀采用獨一無二的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM? V.6軟件）.

鍍層膜厚測試儀的特點:
X射線激發(fā)系統(tǒng)  垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)  
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗  
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等  
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)       75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選  
裝備有安全防射線光閘  
精度高、穩(wěn)定性好
強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能 
測量范圍寬 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選  
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)  最多可同時裝配4種規(guī)格的準(zhǔn)直器  
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如0.1、0.2、0.3等 －方形，如0.05*0.05   －長方形0.3*0.05，0.03*0.2等  

鍍層膜厚測試儀的配制:X射線管(鎢管)、微焦距，可加NI和AL濾片，高讀數(shù)氙氣體比例接收器，另銅層膜厚分析儀，配有四個準(zhǔn)值器和可操控的手動測量臺，使用方便、簡單。

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